분석서비스
시료 및 재료 분석(정성/정량분석)
한국전자기술시험평가원
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현미경분석

업무안내

SEM 단면 및 표면분석을 통하여 귀사의 시료등을 신속히 분석 처리를 도와드립니다. 자세한 일정등을 의뢰하기를 통해 협의 부탁드립니다.

분석장비

FE-SEM

Model : S-4800

Maker : Hitachi

Resolution : 1nm at 15keV

표면 및 단면 분석