재료과학연구에 필수적인 결합분석을 위하여 각 물질간 정보 등을 다음 장비로 분석이 가능합니다. 각 물질의 흡수율,투명도, 재료분석을 충분한 검토와 함께 신속하게 진행해 드립니다.
FT-IR
Bruker IFS-66/S
Spectral range : 4,000 ~ 400 cm-1
Resolution: Better than 0.1 cm-1
Scan rate : 110 scans/sec
UV-VIS/NIR
Varlan Cary 5000
8.0 이상의 흡광도 측정 가능
광도측정범위 : 175-3300nm by PbSmart NIR detector
다양한 슬릿 폭(최저 0.01nm)
Dispersive Raman
Bruker SENTERRA RAMAN
Dual Wavelength Excitation: 785nm(100mW)&532nm(20mW)
Olympus BX51 Reflected Light Microscope(2 Eye, 20&50X Obj.)
Extension for 633nm Excitation Wavelength 17mW
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