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시료 및 재료 분석(정성/정량분석)
한국전자기술시험평가원
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유기재료분석

업무안내

재료과학연구에 필수적인 결합분석을 위하여 각 물질간 정보 등을 다음 장비로 분석이 가능합니다. 각 물질의 흡수율,투명도, 재료분석을 충분한 검토와 함께 신속하게 진행해 드립니다.

분석장비

FT-IR 

Bruker IFS-66/S

Spectral range : 4,000 ~ 400 cm-1

Resolution: Better than 0.1 cm-1

Scan rate : 110 scans/sec

UV-VIS/NIR 

Varlan Cary 5000

8.0 이상의 흡광도 측정 가능

광도측정범위 : 175-3300nm by PbSmart NIR detector

다양한 슬릿 폭(최저 0.01nm)

Dispersive Raman

Bruker SENTERRA RAMAN

Dual Wavelength Excitation: 785nm(100mW)&532nm(20mW)

Olympus BX51 Reflected Light Microscope(2 Eye, 20&50X Obj.)

Extension for 633nm Excitation Wavelength 17mW